[发明专利]一种提高氮化物LED外延片发射波长均匀性的生长方法有效
申请号: | 201310023732.8 | 申请日: | 2013-01-23 |
公开(公告)号: | CN103943731B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 马亮;梁信伟 | 申请(专利权)人: | 同方光电科技有限公司;同方股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种提高氮化物LED外延片发射波长均匀性的生长方法,涉及半导体光电子领域。本发明的方法步骤为对外延片进行有源区薄膜生长时,先确定凹槽表面的等温面空间分布及其弯曲度;调整托盘的加热温度,使外延片表面的温度与目标发射波长相匹配;同时,通过改变外延片的结构参数和工艺条件来调整其弯曲度,使外延片弯曲度和凹槽表面等温面的弯曲度相等。同现有技术相比,本发明生长方法通过控制外延片晶体生长时的弯曲度,有效提高氮化物LED或LD外延片发射波长均匀性。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 氮化物 led 外延 发射 波长 均匀 生长 方法 | ||
【主权项】:
一种提高氮化物LED外延片发射波长均匀性的生长方法, 它包括镀有SiC表层的石墨材质托盘(1)和置于托盘(1)凹槽(3)上的外延片(2),外延片(2)自下而上依次包括衬底、缓冲层、非掺杂层、N型掺杂层、有源区、电子阻挡层和P型掺杂层,其方法步骤为:对外延片(2)进行有源区薄膜生长时,先确定凹槽(3)表面的等温面空间分布及其弯曲度;调整托盘(1)的加热温度,使外延片(2)表面的温度与目标发射波长相匹配;同时,通过改变外延片(2)的结构参数和工艺条件来调整其弯曲度,使外延片(2)弯曲度和凹槽(3)表面等温面的弯曲度相等;所述外延片(2)的结构参数包括各外延薄膜层的厚度、化学组分、结晶程度、晶格常数和热传导系数物理或者化学参数,以及各外延薄膜层的排列顺序;所述外延片(2)的工艺条件包括外延片(2)所处位置的温度、压强、气体种类、流量、流速、Ⅴ/Ⅲ摩尔比和托盘转速因素。
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