[发明专利]测量单色光偏振态的方法

摘要

测量单色光偏振态的方法，属于光电检测技术领域。它解决了现有对光的偏振态的测量方法只能针对某一特定波长的光进行测量，效率低的问题。它沿垂直于入射单色光光路的方向依次布置主偏振片和CCD探测器，使单色光经主偏振片后入射至CCD探测器的光接收面，其中单色光光轴的方向作为三维坐标系的Z轴方向；通过CCD探测器采集获得入射单色光经主偏振片后的透射光强；旋转主偏振片N次，使主偏振片每次旋转后的透光轴与Y轴的夹角不同，每次旋转主偏振片后，采集所述透射光强；然后进行计算；根据每次主偏振片的透光轴与Y轴的夹角及CCD探测器对应采集获得的透射光强计算获得入射单色光的偏振态。本发明适用于对单色光偏振态的测量。

主权项

一种测量单色光偏振态的方法，其特征在于，它包括以下步骤：步骤一：沿垂直于入射单色光光路的方向依次布置主偏振片(1)和CCD探测器(2)，使单色光经主偏振片(1)后入射至CCD探测器(2)的光接收面，其中单色光光轴的方向作为三维坐标系的Z轴方向；步骤二：通过CCD探测器(2)采集获得入射单色光经主偏振片(1)后的透射光强；步骤三：旋转主偏振片(1)N次，使主偏振片(1)每次旋转后的透光轴与Y轴的夹角不同，每次旋转主偏振片(1)后，重复步骤二；然后执行步骤四；其中N为等于或者大于6的自然数；步骤四：根据每次主偏振片(1)的透光轴与Y轴的夹角及CCD探测器(2)对应采集获得的透射光强计算获得入射单色光的偏振态。