[发明专利]薄膜晶体管的制造方法无效

专利信息
申请号: 201310018397.2 申请日: 2013-01-17
公开(公告)号: CN103094123A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 姜清华;李小和 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/285
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 韩国胜
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于显示技术领域,公开了一种薄膜晶体管的制造方法,本发明所提供的薄膜晶体管的制造方法,通过慢速生成模式形成栅绝缘层和半导体层接触界面上的薄膜,结构致密,结晶颗粒小且均匀,接触电阻小,保证了该接触界面的导电能力,使薄膜晶体管具有开关功能。对于不在该接触界面上的薄膜则采用快速生成模式形成,既可以缩短生产时间,提高制造设备的利用率和生产产能,又可以确保栅绝缘层薄膜的厚度,保证薄膜晶体管的质量。
搜索关键词: 薄膜晶体管 制造 方法
【主权项】:
一种薄膜晶体管的制造方法,包括在栅电极图案和源漏极图案之间形成栅绝缘层和有源层图案的步骤,其特征在于,形成栅绝缘层的步骤包括:通过快速生成模式形成第一栅绝缘层薄膜,和通过慢速生成模式形成第二栅绝缘层薄膜,其中,第一栅绝缘层薄膜位于栅电极图案和第二栅绝缘层薄膜之间;形成有源层图案的步骤包括:通过慢速生成模式形成第一半导体层薄膜,和通过快速生成模式形成第二半导体层薄膜,其中,第二半导体层薄膜位于源漏极图案和第一半导体层薄膜之间;在第二半导体层薄膜和源漏极图案之间形成掺杂半导体层薄膜;通过构图工艺形成有源层图案。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310018397.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top