[发明专利]一种影像传感器晶圆背面处理方法无效
| 申请号: | 201310011288.8 | 申请日: | 2013-01-11 |
| 公开(公告)号: | CN103066092A | 公开(公告)日: | 2013-04-24 |
| 发明(设计)人: | 李平 | 申请(专利权)人: | 陆伟 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 杨立 |
| 地址: | 200124 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种影像传感器晶圆背面处理方法,包括对晶圆表面进行抛光处理,使其平坦化;将晶圆的正面与载片键合连接;对晶圆背面进行减薄处理;采用臭氧对晶圆背面表面处理,其中臭氧浓度为20~80毫克/升,处理时间为6~15分钟,处理后在晶圆背面生成一层氧化薄膜,氧化薄膜厚度为10~15埃;在晶圆背面生成的氧化薄膜上淀积一层高介质层;在所述高介质层上淀积一层金属遮蔽层。本发明通过利用臭氧的高活性,在不需要额外的热工艺的基础上在器件晶圆的硅基底背面生长出质量较高的氧化物薄膜,解决器件晶圆背面减薄过程造成的表面缺陷的问题,避免影像传感器产生串扰等问题。本发明优势在于温度低,成本低,工艺容易控制。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 影像 传感器 背面 处理 方法 | ||
【主权项】:
一种影像传感器晶圆背面处理方法,其特征在于,包括以下步骤,对晶圆表面进行抛光处理,使其平坦化;将晶圆的正面与载片键合连接;对晶圆背面进行减薄处理;采用臭氧对晶圆背面表面处理,在晶圆背面生成一层氧化薄膜;在晶圆背面生成的氧化薄膜上淀积一层高介质层;在所述高介质层上淀积一层金属遮蔽层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





