[发明专利]用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备和方法在审
| 申请号: | 201280042740.0 | 申请日: | 2012-09-11 |
| 公开(公告)号: | CN104067105A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
| 发明(设计)人: | 大卫·斯普里格斯;邓肯·斯帝芬森 | 申请(专利权)人: | 马尔文仪器有限公司 |
| 主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N21/49 |
| 代理公司: | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人: | 郑立;王萍萍 |
| 地址: | 英国乌*** | 国省代码: | 英国;GB |
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| 摘要: | 用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备(100),包括蓝色LED(102)和633纳米的氦氖激光器(104)。来自LED和激光器的光输出由二向色元件(116)分别地传送或反射到一个穿过容纳有样品的样品池(122)的共同路径上,样品的颗粒尺寸分布是待测量的。从样品池散射的光由一个或更多个检测器(112B-H)检测。由样品池传送的光由检测器112A,112J检测。来自一个或更多个检测器的输出信号被传递给计算单元(114),计算单元计算颗粒尺寸分布。来自蓝色发光二极管的光有一小部分被二向色元件反射到检测器(110)。类似地,来自激光器的光的一小部分经过二向色元件传送至检测器。来自检测器的输出信号被反馈到控制单元(106,108),以稳定发光二极管和激光器的输出功率。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 通过 散射 测量 颗粒 尺寸 分布 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于通过光散射测量样品的颗粒尺寸分布的设备(100,200),所述设备包括:光生成装置(102,104),所述光生成装置用于分别生成具有第一和第二波长的第一光束(131)和第二光束(132);二向色元件(116),所述二向色元件设置为通过在所述二向色元件(116)处分别传送和反射所述第一光束(131)和所述第二光束(132)来将大部分所述第一光束(131)和第二光束(132)的功率引导至共同路径(133)上;并且,其中所述设备(100)还包括第一检测器(110),所述第一检测器设置为检测由所述二向色元件(116)反射的所述第一光束(131)的一部分。
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