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[发明专利]与颗粒表征有关的改善-CN201480060518.2有效
发明人： 大卫·斯普里格斯 -专利权人：马尔文仪器有限公司
申请日： 2014-11-04 - 公布日： 2019-05-14 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：公开了一种颗粒表征装置，包括：光源；样本室；会聚透镜；以及检测器。光源能操作为利用沿着光束轴的光束照射样本室内包括分散颗粒的样本。光束轴穿过样本室的第一壁、穿过样本、并且穿过样本室的第二壁，以通过与样本的交互作用产生散射光。检测器被配置为检测从样本散射的光。样本室的第二壁包括具有凸外表面的透镜，光束轴穿过该透镜。会聚透镜被布置成将离开样本室的散射光会聚并且聚焦在检测器上，并且会聚透镜包括非球面表面。
颗粒表征有关改善

[发明专利]用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备和方法-CN201280042740.0在审
发明人： 大卫·斯普里格斯;邓肯·斯帝芬森 -专利权人：马尔文仪器有限公司
申请日： 2012-09-11 - 公布日： 2014-09-24 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：用于通过光散射测量颗粒尺寸分布的设备（100），包括蓝色LED（102）和633纳米的氦氖激光器（104）。来自LED和激光器的光输出由二向色元件（116）分别地传送或反射到一个穿过容纳有样品的样品池（122）的共同路径上，样品的颗粒尺寸分布是待测量的。从样品池散射的光由一个或更多个检测器（112B-H）检测。由样品池传送的光由检测器112A，112J检测。来自一个或更多个检测器的输出信号被传递给计算单元（114），计算单元计算颗粒尺寸分布。来自蓝色发光二极管的光有一小部分被二向色元件反射到检测器（110）。类似地，来自激光器的光的一小部分经过二向色元件传送至检测器。来自检测器的输出信号被反馈到控制单元（106,108），以稳定发光二极管和激光器的输出功率。
用于通过散射测量颗粒尺寸分布设备方法