[发明专利]干法蚀刻方法及器件制造方法无效
申请号: | 201280024495.0 | 申请日: | 2012-05-15 |
公开(公告)号: | CN103548122A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 高桥秀治 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065;H01L41/277 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明实现了层叠在介电材料上的导电材料的蚀刻速度(蚀刻速率)的加速,并改进了与作为底的介电材料的选择比。将包括卤素气体和氧气的混合气体用作蚀刻气体。将氧气在混合气体中的混合比设定为大于等于30%且小于等于60%。在将混合气体提供到腔室中并生成等离子体时,将腔室中的气压设定为大于等于1Pa且小于5Pa。将频率大于等于800kHz且小于4MHz的偏置电压作为偏置电压施加到导电材料层叠在介电材料上的蚀刻材料,以执行蚀刻。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 方法 器件 制造 | ||
【主权项】:
一种对层叠在介电材料上的导电材料进行蚀刻的干法蚀刻方法,其特征在于包括:使用包括卤素气体和氧气的混合气体作为蚀刻气体,所述混合气体中所述氧气的混合比大于等于30%,且小于等于60%;在将所述混合气体提供到腔室中并生成等离子体时,将所述腔室中的气压设定在大于等于1Pa且小于5Pa的范围内;以及将频率大于等于800kHz且小于4MHz的偏置电压作为偏置电压施加到蚀刻材料并执行蚀刻,其中在所述蚀刻材料中,所述导电材料层叠在所述介电材料上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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