[发明专利]光学设备用遮光材料有效

专利信息
申请号: 201280015556.7 申请日: 2012-02-29
公开(公告)号: CN103460080A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 丰岛靖麿;大久保贵志 申请(专利权)人: 木本股份有限公司
主分类号: G02B5/00 分类号: G02B5/00;G03B9/02;G03B9/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张玉玲
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供具有保持遮光膜的必要物性、并且低光泽度区域宽的遮光膜的光学设备用遮光材料。其为在基材(2)上具有遮光膜(4)的光学设备用遮光材料(1),遮光膜(4)的表面性状按照满足A1及A2中的至少任一者、和B1及B2中的至少任一者的方式进行调整。A1是三维表面粗糙度测定中的算术平均粗糙度Sa达到0.4以上且2.0以下的条件,A2是三维表面粗糙度测定中的十点平均粗糙度Sz达到1以上且20以下的条件,B1是以三维表面粗糙度测定中的中心平面作为基准面,设从该基准面突出于位于Sa的n倍的高度位置的平面的突起数为Pn,设突出于位于Sa的(n+1)倍的高度位置的平面的突起数为Pn+1,设Pn与Pn+1的比(Pn+1/Pn)为Rn时(其中,n均为正的整数。),R1达到55%以上、且R4达到7%以上的条件,B2是R1达到55%以上、R2达到15%以上、及R3达到8%以上的条件。
搜索关键词: 光学 备用 遮光 材料
【主权项】:
一种光学设备用遮光材料,其是具有遮光膜的光学设备用遮光材料,其中,所述遮光膜按照满足下述条件A1及条件A2中的至少任一者、和下述条件B1及条件B2中的至少任一者的方式调整表面性状,条件A1:设三维表面粗糙度测定中的算术平均粗糙度为Sa时,Sa的值达到0.4以上且2.0以下的条件,条件A2:设三维表面粗糙度测定中的十点平均粗糙度为Sz时,Sz的值达到1以上且20以下的条件,条件B1:以三维表面粗糙度测定中的凹凸的中心平面为基准面,设从该基准面突出于位于Sa的n倍的高度位置的平面的突起数为Pn,设突出于位于Sa的(n+1)倍的高度位置的平面的突起数为Pn+1,设Pn与Pn+1的比(Pn+1/Pn)为Rn时,R1达到55%以上、且R4达到7%以上的条件,其中,n均为正的整数,条件B2:与条件B1相同地设定Pn、Pn+1、Rn时,至少R1达到55%以上、R2达到15%以上、及R3达到8%以上的条件。
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