[实用新型]一种窄带ISDN芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 201220736782.1 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN203057283U 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 刘文红 申请(专利权)人: 北京佳讯飞鸿电气股份有限公司
主分类号: H04M3/24 分类号: H04M3/24;H04L12/26
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦
地址: 100095 北京市海淀区北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种窄带ISDN芯片测试装置。该测试装置中,逻辑控制单元分别与中央处理单元、自测单元、待测单元相连接;反馈单元分别与中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元连接;自测单元与中央处理单元连接;中央处理单元控制自测单元和待测单元向逻辑控制单元传输测试信号,逻辑控制单元接收测试信号并进行比较,将比较结果反馈至反馈单元。本测试装置适用于窄带ISDN芯片的入库检测、筛选及故障检测等,使用方式便捷、检测方式灵活,可靠性高。
搜索关键词: 一种 窄带 isdn 芯片 测试 装置
【主权项】:
一种窄带ISDN芯片测试装置,其特征在于:所述窄带ISDN芯片测试装置包括中央处理单元、逻辑控制单元、自测单元、待测单元以及反馈单元;其中,所述逻辑控制单元分别与所述中央处理单元、所述自测单元、所述待测单元相连接;所述反馈单元分别与所述中央处理单元、所述逻辑控制单元、所述自测单元、所述待测单元连接;所述自测单元与所述中央处理单元连接;所述中央处理单元控制所述自测单元和所述待测单元向所述逻辑控制单元传输测试信号,所述逻辑控制单元接收所述测试信号并进行比较,将比较结果反馈至所述反馈单元。
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