[实用新型]液晶盒厚测量装置有效
| 申请号： | 201220595409.9 | 申请日： | 2012-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN202854449U | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 井杨坤;刘庆;王允杰;郁志忠;吴为民 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 韩国胜 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及液晶显示技术，公开了一种液晶盒厚测量装置，该装置包括光学测量机台、UV LED灯和定位系统，所述UV LED灯和定位系统分别设于所述光学测量机台上，所述定位系统用于液晶盒测量点的定位。本实用新型利用紫外荧光点可以在UV LED光的照射下发出波长荧光效应，且其光谱范围在液晶盒厚测量使用的光谱范围以外，这样可以确保不会影响到液晶盒厚的测量，可确保测量精度；且由于UV LED灯为冷光源，不会产生热量对液晶盒的热敏感机台造成影响。进一步地，采用大小视野双摄像头的定位系统，可确保液晶盒厚测量准确的同时，有效的提高设备的安全性和操作人员的安全。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述测量装置包括光学测量机台、UV LED灯和定位系统，所述UV LED灯和定位系统分别设于所述光学测量机台上，所述定位系统用于液晶盒测量点的定位。
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