[实用新型]用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座有效
| 申请号： | 201220588508.4 | 申请日： | 2012-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN202994834U | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 范曾轶;廖炳隆;储征毓;罗晶 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座，包括金属引脚、金属底板、金属片，所述金属片通过金属片的金属连线与金属引脚连接，所述金属底板的每个侧面与位于该侧面外的金属片远离金属引脚的一端在横向上留有间隙，所述金属底板的每个侧面均通过若干金属底板的金属连线与金属引脚连接。本实用新型缩小金属底板的面积，在纵向错层中增加金属连线实现VDMOS的漏端通过金属底板与金属底板连接，进而实现VDMOS在双列直插陶瓷底座的封装以及进行HTRB等可靠性测试，并且金属底板与金属引脚之间的金属连线在不需要的情况下可以通过物理方式断开，从而避免金属底板与金属片在金属引脚上的短路，保证VDMOS在陶瓷底座上的漏端引出端的独立性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 vdmos 器件 可靠性 测试 双列直插 陶瓷 底座 | ||
【主权项】：
一种用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座，包括金属引脚（1）、金属底板（2）、金属片（3），所述金属片（3）通过金属片的金属连线（4）与金属引脚（1）连接，其特征在于，所述金属底板（2）的每个侧面与位于该侧面外的金属片（3）远离金属引脚（1）的一端在横向上留有间隙，所述金属底板（2）的每个侧面均通过若干金属底板的金属连线（6）与金属引脚（1）连接。
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