[实用新型]一种偏光片贴附精度测量装置有效
申请号: | 201220548227.6 | 申请日: | 2012-10-24 |
公开(公告)号: | CN202853534U | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 赵寅初;公伟刚;许安龙 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型涉及液晶面板质量检测器具技术领域,特别涉及一种偏光片贴附精度测量装置,用于方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。本实用新型公开了一种偏光片贴附精度测量装置,包括:测量平台,位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构,以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块。使用本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置,可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差,提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度;同时,本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度,方便快捷,提高了测量效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 偏光 片贴附 精度 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种偏光片贴附精度测量装置,其特征在于,包括:测量平台,位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构,以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块;其中,所述尺寸测量模块包括:滑动装配在所述滑动结构上的基座,设置于所述基座上具有可伸缩测量探杆的读数盘,设置于所述基座和所述测量平台之间且位于所述测量探杆下方的厚度调整块;其中,所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面平行,并高出所述测量平台的上端面,且所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间的高度差小于或等于待测偏光片的厚度;所述测量探杆的伸缩方向垂直于所述测量平台和所述厚度调整块位置相对的端面;且在竖直方向上,所述测量探杆与所述测量平台的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。
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