[实用新型]一种偏光片贴附精度测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶面板质量检测器具技术领域，特别涉及一种偏光片贴附精度测量装置。

背景技术

在液晶面板生产过程中，偏光片贴附工艺完成后，需要测量贴附在液晶面板上的偏光片贴附精度。如图1所示，贴附精度指的是偏光片20边缘与液晶面板10边缘的距离，一般需要测量A1、A2、A3和A4共4个点位，而液晶面板的两侧都需要贴附偏光片，因此，测量一个液晶面板上的偏光片的贴附精度一般需要测量8个点位。

目前，通常使用目镜测量偏光片的贴附精度，通常情况下，每个液晶面板需要测量8个点位，若是贴附精度出现波动时，则要求对32个点位测量，工作量比较大，效率低；而且采用目镜测量时，由于目镜本身精度限制及人为因素引起读数误差较大，不能很好的对偏光片的贴附精度进行管控。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供了一种方便快捷地、精确地测量偏光片贴附精度的偏光片贴附精度测量装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：

一种偏光片贴附精度测量装置，包括：测量平台，位于所述测量平台周边的至少一个滑动结构，以及滑动装配在每一个所述滑动结构上的至少一个尺寸测量模块；其中，

所述滑动结构的导向方向与所述测量平台的长边或短边平行；

所述尺寸测量模块包括：滑动装配在所述滑动结构上的基座，设置于所述基座上具有可伸缩测量探杆的读数盘，设置于所述基座和所述测量平台之间且位于所述测量探杆下方的厚度调整块；其中，

所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面平行，并高出所述测量平台的上端面，且所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间的高度差小于或等于待测液晶面板中偏光片的厚度；

所述测量探杆的伸缩方向垂直于所述测量平台和所述厚度调整块位置相对的端面；且在竖直方向上，所述测量探杆与所述测量平台的上端面之间的距离小于待测液晶面板的厚度。

优选地，所述滑动结构包括凹槽本体和位于所述凹槽本体底部的滑轨。

进一步地，所述滑动结构还包括设置于所述凹槽本体的侧壁，与所述滑轨平行的滑槽孔；所述尺寸测量模块可可通过螺钉和所述滑槽孔固定在所述滑轨上。

优选地，所述滑动结构与所述测量平台为一体化结构。

优选地，所述滑动结构数量为两个，且位置相邻。

较佳地，每一个所述滑动结构上设置有两个所述尺寸测量模块。

优选地，所述测量探杆下方对应的所述厚度调整块的上端面设置有凹槽，且所述凹槽的长度方向与所述测量探杆长度方向平行。

较佳地，所述厚度调整块的第二端面具有两个长轴方向垂直所述测量平台上端面的椭圆形孔，所述厚度调整块通过螺钉和所述两个椭圆形孔固定在所述基座上，并可调整所述厚度调整块的上端面与所述测量平台的上端面之间高度差。

较佳地，所述厚度调整块的上端面相对于所述测量平台的上端面高出一个待测偏光片的厚度。

优选地，上述读数盘为数显千分表或数显百分表。

本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置在使用时，首先调整厚度调整块相对于测量平台上端面的高度，使厚度调整模块的上端面高出测量平台的上端面，且厚度调整模块的上端面与测量平台的上端面之间高度差小于或等于待测液晶面板中偏光片的厚度，优选地，厚度调整模块的上端面与测量平台的上端面之间的高度差为待测液晶面板上贴附的偏光片的厚度；然后调整测量探杆的前端面与厚度调整块的前端面平齐，也就是厚度调整块与测量平台相对的端面，将读数盘归零；最后将贴有偏光片的液晶面板平放在测量平台上，平推液晶面板向尺寸调整模块移动，当液晶面板的边缘与读数盘的测量探杆接触后，推动测量探头移动，直至偏光片与厚度调整块的前端面接触，此时，读取各个读数盘上显示的数值，从而获得偏光片在液晶面板上的贴附精度。

从上述技术方案可知，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置较之背景技术中使用的目镜，可明显减小因目镜本身精度和人为因素引起的读数误差，提高测量偏光片在液晶面板上的贴附精度；同时，本偏光片贴附精度测量装置一次测试可获得至少两个点位的偏光片贴附精度，方便快捷，提高了测量效率；因此，本实用新型提供的偏光片贴附精度测量装置能够方便快捷地、精确地测量偏光片在液晶面板上的贴附精度。

附图说明

图1为现有技术中测量偏光片贴附精度的点位分布图；

图2为本实用新型实施例提供的偏光片贴附精度测量装置的结构示意图；

图3为图2中尺寸测量模块的结构示意图；