[发明专利]一种双光路X射线无损检测装置无效
| 申请号： | 201210596427.3 | 申请日： | 2012-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103901058A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 韩晓耕;张勇;田文文;段辉 | 申请（专利权）人： | 天津欣维检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01B15/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300270 天津市滨海新区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种双光路X射线无损检测装置，包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，其中前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。测量时，通过控制系统控制测量台进行圆周方向步进转动和竖直方向的移动，放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位；所述后准直器设于康普顿探测器和线阵探测器前端以排除杂散射线。本发明使用两条光路，不但可以进行工件整体分析，还可以进行工件表面分析，分辨率高，可进行不同倍数的放大扫描，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 双光路 射线 无损 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，所述放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器放置于保护外壳内，所述前准直器放置在放射源和被测工件之间，所述后准直器放置在康普顿探测器、线阵探测器与被测工件之间。
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