[发明专利]一种双光路X射线无损检测装置

权利要求书

1.一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：包括放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器、保护外壳以及控制系统，所述放射源、前准直器、测量台、被测工件、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器放置于保护外壳内，所述前准直器放置在放射源和被测工件之间，所述后准直器放置在康普顿探测器、线阵探测器与被测工件之间。

2.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：所述放射源和线阵探测器处于固定位置，康普顿探测器、测量台的运行轨迹则由控制系统进行控制。

3.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：所述保护外壳为含铅玻璃。

4.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：所述前准直器为无散射狭缝，后准直器为高分辨率的多平行束准直器。

5.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：所述测量台为三维可旋转测量台。

6.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：测量时，所述放射源、前准直器、后准直器、线阵探测器、康普顿探测器的中心延长线均指向被测工件上的检测部位。

7.根据权利要求1所述的一种双光路X射线无损检测装置，其特征是：所述放射源为分体式X射线管，使用Cu靶为射线源。