[发明专利]基材表面涂覆的干燥涂层厚度的测量方法

摘要

本发明提供一种基于涂覆于基材表面上干燥涂层厚度的测量方法，包括如下步骤：步骤一、切削涂层，通过使用涂层切削装置在试样表面切削涂覆的涂层至基材表面，使涂层被切削面与基材表面形成一定的夹角A；步骤二、显微摄影，通过显微摄影装置放大涂层被切削部位，并获取清晰的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片；步骤三、图像传输，显微摄影装置所拍摄到的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片通过数据传输线输入数据处理装置；步骤四、数据处理，通过计算机软件对显微摄影装置所拍摄的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片数据进行处理，获得涂层厚度数据。

主权项

一种基材表面涂覆的干燥涂层厚度测量方法，包括如下步骤：步骤一、切削涂层，通过使用涂层切削装置在试样表面切削涂覆的涂层至基材表面，使涂层被切削面与基材表面形成一定的夹角A；步骤二、显微摄影，通过显微摄影装置放大涂层被切削部位，并获取清晰的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片；步骤三、图像传输，显微摄影装置所拍摄到的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片通过数据传输线输入数据处理装置；步骤四、数据处理，通过计算机软件对显微摄影装置所拍摄的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片数据进行处理，获得涂层厚度数据，其特征在于，所述数据处理过程如下：首先用与被测试样涂层厚度近似的已知涂层厚度为a的标准试样进行上述步骤一～步骤三操作，在拍摄的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片上截取若干点，测量涂层表面到基材表面的距离，由各点测量值可以计算得出标准试样涂层厚度的测量平均值b，标准试样涂层厚度标准值与测量平均值之比为比例系数η，即η=a/b；然后对被测试样进行上述步骤一～步骤三操作，在拍摄的涂层被切削面至基材表面的垂直投影照片上截取若干点，测量涂层表面到基材表面的距离，由各点测量值可以计算得出被测试样涂层厚度的测量平均值b’，被测试样的涂层实际厚度a’＝被测试样涂层厚度的测量平均值b’×比例系数η。