[发明专利]引线框架及其生产方法有效

专利信息
申请号: 201210564926.4 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN102983083A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 汪洋;林桂贤;丘文雄;彭淑合;丛艳丽;林阮彬 申请(专利权)人: 厦门永红科技有限公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L23/495
代理公司: 厦门市诚得知识产权代理事务所(普通合伙) 35209 代理人: 赖开慧
地址: 361000 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及电子封装制造领域,尤其涉及封装芯片所用的引线框架,特别是主要应用于SOT(小外型晶体管)系列引线框架。一种引线框架的生产方法,包括:A)冲压、B)电镀和C)成型步骤;其中,A)冲压步骤:取铜合金片材,通过冲裁模具的凸、凹模进行冲压,形成引线框架半成品,该铜合金片材的抗拉强度Rm为≥600MPa,断后延伸率A11.3≥8%,维氏硬度HV≥180,导电率≥46%IACS,热导率≥190w/m.k.;B)电镀步骤:将上述的引线框架半成品依次序如下处理:预镀银、镀银、退银;C)成型步骤:将上述电镀后的引线框架半成品进行切片成型。本发明的引线框架具有更良好的机械特性和电热学特性。
搜索关键词: 引线 框架 及其 生产 方法
【主权项】:
一种引线框架的生产方法,包括:A)冲压、B)电镀和C)成型步骤;其中,A)冲压步骤:取铜合金片材,通过高速冲床,借助冲裁模具的凸、凹模进行冲压,形成引线框架半成品,该铜合金片材的化学成分及其质量比例份数分别是:1.8~2.1%的镍,0.4~0.68%的硅,0~0.2%的铁,0~0.1%的锰,0~0.2%的锌,0~0.005%的镉,0~0.02%的铅,其中铁、锰、锌、镉和铅均为杂质成分,以及0~0.3%的其余杂质,余量为铜;该铜合金片材的抗拉强度Rm为≥600MPa,断后延伸率A11.3≥8%,维氏硬度HV≥180,导电率≥46%IACS,热导率≥190w/m.k.;B)电镀步骤:将上述的引线框架半成品依次序如下处理:前处理、预镀银、镀银、退银、后处理、烘干;C)成型步骤:将上述电镀后的引线框架半成品进行切片成型。
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