[发明专利]光学试验装置有效
| 申请号： | 201210558895.1 | 申请日： | 2012-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN103176115A | 公开（公告）日： | 2013-06-26 |
| 发明（设计）人： | 内田练;石川真治;佐藤哲也 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 雒运朴 |
| 地址： | 日本国大阪府大阪市阿倍野*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光学试验装置，无论各芯片所对应的探针位置，能够使光量的计测条件均等，而使光量的测量值均等。其中，作为在发光器件例如LED芯片等的芯片(22)的光学特性计测中、使多个同時进行探针接触来计测光量时的光学性修正单元，具备如下：用于供给电源的接触探针(21)；在接触探针群的两侧，以在其以外遮挡扩散光为目的的用于取得同等计测条件的虚拟探针(21a)。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 试验装置 | ||
【主权项】：
一种光学试验装置，其特征在于，具有：在与计测对象的多个发光器件进行电接触而计测光学特性时，用于向该多个发光器件供给电源的多个接触单元；在该多个接触单元的两侧分别设置、且与该接触单元同样并且用于遮挡来自该发光器件的扩散光的虚拟单元。
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