[发明专利]一种测量不确定度的分析方法

摘要

本发明公开了一种测量不确定度的分析方法。利用参考测量系测量各标准样件，获取测量结果X，利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量，获取测量结果Y；分别计算测量结果X和Y的方差V(X)和V(Y)，并定义α＝V(X)/V(Y)；假设和是测量值X和Y的一个合理估计；并假设有关系存在；按照Mandel精度定义式计算求得计算定义的全局不确定度；再计算整体不确定度T，利用T²替换第5步公式α＝V(X)/V(Y)中的V(Y)，重新计算一个新的比例系数α¹；将α¹与α对比，如果满足迭代条件，则当前计算的T即为待分析系统的测量不确定度；否则继续迭代。该方法可以对测量系统的测量不确定度作更为合理的分析。

主权项

1.一种测量不确定度的分析方法，该方法包括下述步骤： 第1步利用参考测量系测量各标准样件，获取测量结果X=(x₁,x₂,…,x _n)，测量分量x_k表示对标准样件组中的第k个标准样件进行测量的结果，n表示标准样件的个数； 第2步利用某一待分析的测量系统对标准样件进行测量，获取测量结果Y=(y₁,y₂,…,y_n)，每一个测量分量y_k表示对标准样件组中的第k个标准样件进行测量的结果； 第3步分别计算测量结果X=(x₁,x₂,…,x_n)和Y=(y₁,y₂,…,y_n)的方差V(X)和V(Y)，并定义一个比例参数α=V(X)/V(Y)； 第4步假设和是测量值X=(x₁,x₂,…,x_n)和Y=(y₁,y₂,…,y_n)的一个合理估计；并假设有关系存在，其中与是线性拟合方程系数的一个近似估计；第5步按照Mandel精度定义式计算求得进而得到第6步按照公式计算本发明中定义的全局不确定度σ_this；第7步按照定义式计算整体不确定度T，其中σ_X为参考测量系的不确定度，定义为第8步将计算出来的T²替换第2步公式α=V(X)/V(Y)中的V(Y)，重新 计算一个新的比例系数α¹； 第9步将第8步中计算得到的新的比例系数α¹与最开始计算的α做对比，比较二者之间的差值是否小于某一个预先设定的阈值δ，如果有|α¹-α|＜δ，则迭代计算终止，输出当前计算的T即为待分析系统的测量不确定度；如果|α¹-α|＞δ，则继续迭代计算第3步～第8步，直到|α¹-α|＜δ。