[发明专利]用于芯片的测试控制电路以及相应的方法有效
| 申请号： | 201210528275.3 | 申请日： | 2012-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN103853068B | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 王乃龙;阳冠欧 | 申请（专利权）人： | 戴泺格集成电路（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/04 | 分类号： | G05B19/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 酆迅 |
| 地址： | 300457 天津市塘沽区天津市经*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于芯片的测试控制电路以及相应的方法。例如，本发明的实施例提供一种用于芯片的测试控制电路，测试控制电路被包含在芯片中，并且包括：第一端子，连接至芯片的电源端子；第二端子，连接至芯片中用于测试芯片的电特性的测试电路；以及控制模块，操作以基于经由第一端子接收的芯片的电源电压而产生至少一个测试控制信号，并且经由第二端子向测试电路输出测试控制信号以控制测试电路的操作。还公开了包含该测试控制电路的芯片和相应的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 测试 控制电路 以及 相应 方法 | ||
【主权项】：
一种用于芯片的测试控制电路，所述测试控制电路被包含在所述芯片中，并且包括：第一端子，连接至所述芯片的电源端子；第二端子，连接至所述芯片中的测试电路，所述测试电路操作以测试所述芯片的电特性；以及控制模块，操作以基于对一个参考电压与经由所述第一端子接收的带图案电源电压的比较结果而产生至少一个测试控制信号，并且经由所述第二端子向所述测试电路输出所述至少一个测试控制信号以控制所述测试电路的操作。
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