[发明专利]一种电路测试控制方法及装置有效
| 申请号： | 201210513748.2 | 申请日： | 2012-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN103018657A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 滕虓宇;张炜;马文波;于立波 | 申请（专利权）人： | 北京华大信安科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;许伟群 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置，包括，在进入测试模式后，接收第一测试口令，以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号，将所述第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入片上系统SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。相应的，本发明实施例还公开了一种电路测试控制装置。本发明实施例所提供的电路测试控制方法及装置，利用测试口令，控制测试模式信号进入SOC芯片，增加了启动SOC芯片测试项的条件，提高了SOC芯片的安全性，同时，通过输入相应的测试口令和测试模式信号，可以直接实现测试项的转换，使得测试过程更简洁。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 测试 控制 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电路测试控制方法，其特征在于，包括：在进入测试模式后，接收第一测试口令，以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号；将所述第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入片上系统SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。
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