[发明专利]一种电路测试控制方法及装置

权利要求书

1.一种电路测试控制方法，其特征在于，包括：

在进入测试模式后，接收第一测试口令，以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号；

将所述第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入片上系统SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，当接收到的第一测试口令为不同的多条第一测试口令时，

所述将第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入所述片上系统SOC芯片具体为：

将所述不同的多条第一测试口令分别与预设口令进行匹配，如果全部匹配成功，将所述第一测试模式信号输入所述片上系统SOC芯片。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在对所述第一测试项测试结束后，所述方法还包括：

接收第二测试口令，以及与所述第二测试口令对应的第二测试模式信号；

将所述第二测试口令与所述预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第二测试模式信号输入所述SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第二测试模式信号对应的第二测试项进行测试。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，当接收到的第二测试口令为不同的多条第二测试口令时，

所述将第二测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第二测试模式信号输入所述片上系统SOC芯片具体为：

将所述不同的多条第二测试口令分别与预设口令进行匹配，如果全部匹配成功，将所述第二测试模式信号输入所述片上系统SOC芯片。

5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，在测试结束后，所述方法还包括：将所述测试模式切换为正常应用模式。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述将测试模式切换为正常应用模式具体包括：通过控制所述SOC芯片上的保护链路的断开，将所述测试模式切换为正常应用模式。

7.一种电路测试控制方法，其特征在于，包括：

在进入测试模式后，接收多条测试口令，以及与所述多条测试口令对应的多个测试模式信号；

将所述多条测试口令中的每条测试口令分别与预设口令进行匹配，并将匹配成功的多条测试口令对应的多个测试模式信号并行输入到片上系统SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上对应的多个测试项进行并行测试。

8.一种电路测试控制装置，其特征在于，包括：

第一接收单元：用于接收第一测试口令；

第二接收单元：用于接收与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号；

匹配单元：用于将所述第一测试口令与预设口令进行匹配；

输入单元：用于在所述第一测试口令与预设口令匹配成功后，将所述第一测试模式信号输入所述片上系统SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第一测试模式信号对应的第一测试项进行测试。

9.如权利要求8所述的电路测试控制装置，其特征在于，所述第一接收单元接收到的第一测试口令为不同的多条第一测试口令时，

所述匹配单元，还用于将所述不同的多条第一测试口令分别与预设口令进行匹配；

所述输入单元：还用于在所述匹配单元将所述不同的多条第一测试口令分别与预设口令全部匹配成功时，将所述第一测试模式信号输入所述片上系统SOC芯片。

10.如权利要求8所述的电路测试控制装置，其特征在于，

所述第一接收单元：还用于接收第二测试口令；

所述第二接收单元：还用于接收与所述第二测试口令对应的第二测试模式信号；

所述匹配单元：还用于将所述第二测试口令与预设口令进行匹配；

所述输入单元：还用于在所述第二测试口令与预设口令匹配成功后，将所述第二测试模式信号输入所述SOC芯片，以便于对所述SOC芯片上所述第二测试模式信号对应的第二测试项进行测试。