[发明专利]闪存坏块的自动检测方法及自动检测装置在审

专利信息
申请号: 201210510107.1 申请日: 2012-12-03
公开(公告)号: CN103854704A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 沈志刚 申请(专利权)人: 上海斐讯数据通信技术有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 胡美强;吕一旻
地址: 201616 上海市松江*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种闪存坏块的自动检测方法及自动检测装置。该自动检测方法包括以下步骤:启动该嵌入式系统,登陆一网页界面,并选定一测试软件;将该测试软件烧录至该闪存中;判断该烧录过程是否成功,在判断结果为否的情况下记录烧录失败的信息并再次烧录该测试软件,在判断结果为是的情况下继续流程;重启该嵌入式系统;运行该测试软件,记录该测试软件的运行信息;擦除该测试软件,并再次烧录该测试软件。本发明的闪存坏块的自动检测方法及自动检测装置,通过循环的写入、擦除一软件程序,并在嵌入式系统中通过运行该软件程序检测闪存是否存在坏块并自动记录,从而能够高效地对闪存进行自动化检测,并且不易造成错检。
搜索关键词: 闪存 自动检测 方法 装置
【主权项】:
一种闪存坏块的自动检测方法,包括一闪存,该闪存安装于一嵌入式系统中,其特征在于,该自动检测方法包括以下步骤:S101、启动该嵌入式系统,登陆一网页界面,并选定一测试软件;S102、将该测试软件烧录至该闪存中;S103、判断该烧录过程是否成功,在判断结果为否的情况下执行步骤S104b,在判断结果为是的情况下执行步骤S104a;S104b、记录烧录失败的信息,并执行该步骤S102;S104a、重启该嵌入式系统;S105、运行该测试软件,记录该测试软件的运行信息;S106、擦除该测试软件,并执行该步骤S102
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海斐讯数据通信技术有限公司,未经上海斐讯数据通信技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210510107.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top