[发明专利]闪存坏块的自动检测方法及自动检测装置在审
申请号: | 201210510107.1 | 申请日: | 2012-12-03 |
公开(公告)号: | CN103854704A | 公开(公告)日: | 2014-06-11 |
发明(设计)人: | 沈志刚 | 申请(专利权)人: | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 胡美强;吕一旻 |
地址: | 201616 上海市松江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪存 自动检测 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种闪存坏块的自动检测方法及自动检测装置。
背景技术
在过去的20年里,嵌入式系统一直使用只读内存作为它们的存储设备,然而近年来闪存全面代替了只读内存在嵌入式系统中的地位,得到了极为广泛的应用。闪存是存储芯片的一种,通过特定的程序可以修改里面的数据。闪存不仅具备电子可擦除可编程的性能,还可以快速读取数据,使数据不会因为断电而丢失。
然而在采用闪存存储数据时一个需要重点考虑的问题是其可靠性。而对于闪存可靠性的测试,需要不断重复的写入擦除来验证。现有的测试方法只能通过手动的重复写入擦除来检测闪存是否存在坏块。但手动的检测需要花费检测人员大量的时间,同时不易全程监控并记录,会导致检测人员疲劳、降低效率、可能造成错检等问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中只能采用手动检测的方法测试闪存可靠性从而带来较高的人力成本并且效率不高可能造成错检的缺陷,提出一种闪存坏块的自动检测方法及自动检测装置,通过一网页界面循环的写入、擦除一软件程序,并在嵌入式系统中通过运行该软件程序检测闪存是否存在坏块并自动记录,从而能在自动检测的同时全程记录相关信息,高效地对闪存进行检测,并且不易造成错检。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:
本发明提供了一种闪存坏块的自动检测方法,包括一闪存,该闪存安装于一嵌入式系统中,其特点在于,该自动检测方法包括以下步骤:
S101、启动该嵌入式系统,登陆一网页界面,并选定一测试软件;
S102、将该测试软件烧录至该闪存中;
S103、判断该烧录过程是否成功,在判断结果为否的情况下执行步骤S104b,在判断结果为是的情况下执行步骤S104a;
S104b、记录烧录失败的信息,并执行该步骤S102;
S104a、重启该嵌入式系统;
S105、运行该测试软件,记录该测试软件的运行信息;
S106、擦除该测试软件,并执行该步骤S102。
其中,该测试软件只要是可在该嵌入式系统中正常运行的软件程序即可。本领域技术人员应当理解,该网页界面也称为web管理界面,通过url(统一资源定位符)管理嵌入式系统,该自动检测方法中的各步骤通过url方式的指令进行控制,这样在实现自动检测的同时还能够远程控制自动检测。
在该步骤S103中判断该烧录过程是否成功,指的是从烧录过程中的一些信息例如烧录过程的完成度或者烧录过程中是否有报错来进行判断。当烧录过程不成功时,记录烧录失败的信息,并执行该步骤S102,即再一次进行该测试软件的烧录。仅仅烧录过程成功并不能确定闪存中没有坏块,所以还需要在重启该嵌入式系统后运行烧录至该闪存中的该测试软件,并记录该运行信息。如果该测试软件无法在该嵌入式系统正常运行,那就说明该闪存仍存在坏块。在一次完成后需要擦除该测试软件,以便于进行下一次的测试。
本领域技术人员应当理解,烧录失败的信息和该运行信息除了包括该测试软件的相关信息外,还应当记录有时间信息。本发明的该自动检测方法中不包括对该闪存是否存在坏块作直接的判断,而是通过循环多次的自动测试,将测试中的相关信息全程记录,以便于提供本领域技术人员全面充分的信息以判断该闪存是否存在坏块,并且能够大大降低发生错检的可能。
较佳地,该步骤S105包括以下步骤:
S1051、打开该测试软件;
S1052、修改该嵌入式系统的配置;
S1053、查看修改的配置是否生效,并记录结果。
通过修改该嵌入式系统的配置,并查看是否生效,能够更严格的对烧录至该闪存的该测试软件是否完整无误进行判断。
较佳地,该步骤S102中烧录该测试软件通过一curl命令完成。
curl命令是一种利用url语法在命令行方式下工作的文件传输工具,利用curl命令能方便的执行该测试软件的烧录。该curl命令的具体设置属于本领域常规技术手段,在此不再赘述。
本发明还提供了一种闪存坏块的自动检测装置,其特点在于,包括:
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