[发明专利]一种接合焊盘结构及其制造方法有效
申请号: | 201210435335.7 | 申请日: | 2012-11-02 |
公开(公告)号: | CN103794732B | 公开(公告)日: | 2017-02-22 |
发明(设计)人: | 李玉军;郭峰;赵本刚 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司 |
主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;H01L51/56 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 马晓亚 |
地址: | 201201 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种接合焊盘结构及其制造方法,所述接合焊盘结构包含设置于基板上的多晶硅层,所述多晶硅层呈条状平行排列;位于所述多晶硅层上的第一金属层和第二金属层,并且所述第二金属层位于所述第一金属层之上;位于所述第一金属层和所述第二金属层之间的间隔层,所述间隔层包括多个凸出块;其中,所述第二金属层表面具有与所述多个凸出块对应的多个凸起。本发明改进了接合焊盘结构,实现了接合焊盘结构的表面凸起与集成电路接合引出点之间的更强的作用力。 | ||
搜索关键词: | 一种 接合 盘结 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种接合焊盘结构,其特征在于,包含:设置于基板上的多晶硅层,所述多晶硅层呈条状平行排列,其中,所述多晶硅层刻蚀成凸点以抬高接合引出点的位置;位于所述多晶硅层上的第一金属层和第二金属层,并且所述第二金属层位于所述第一金属层之上;位于所述第一金属层和所述第二金属层之间的间隔层,所述间隔层包括多个凸出块,所述间隔层由氮化硅制成;其中,所述第二金属层表面具有与所述多个凸出块对应的多个凸起;所述接合焊盘结构位于显示区域外围,所述接合焊盘结构中的所述多晶硅层、第一金属层、第二金属层以及间隔层与显示区域的像素区域结构同时形成。
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