[发明专利]芯片功耗测量电路、芯片及芯片功耗测量方法有效
| 申请号： | 201210400838.0 | 申请日： | 2012-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN103777067A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 豆全亮;王有;张焱;伍星 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R21/06 | 分类号： | G01R21/06;G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 黄厚刚 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片功耗测量电路、芯片及芯片功耗测量方法，属于电学领域。所述电路包括：第一电压获取模块，用于获取电源作用于电流采集电阻两端的电压；第二电压获取模块，用于获取所述电源作用于所述芯片的总电压；其中，所述第一电压获取模块获取到的电压和所述第二电压获取模块获取到的电压以及已知的所述电流采集电阻的阻值用于计算所述芯片在所述电源作用下的功耗。本发明通过获取预设的电流采集电阻两端的电压以及电源作用于芯片的总电压，结合电流采集电阻的阻值计算芯片在该电源作用下的功耗，达到扩展应用范围，减小测量误差且能够同时测量多个电源作用于芯片时各自的功耗的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 功耗 测量 电路 测量方法 | ||
【主权项】：
一种芯片功耗测量电路，其特征在于，所述电路包括：第一电压获取模块，用于获取电源作用于电流采集电阻两端的电压，所述电流采集电阻一端与所述电源相连，另一端与芯片相连；第二电压获取模块，用于获取所述电源作用于所述芯片的总电压；其中，所述第一电压获取模块获取到的电压和所述第二电压获取模块获取到的电压以及所述电流采集电阻的阻值用于计算所述芯片在所述电源作用下的功耗。
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