[发明专利]一种高压二极管芯片合金工艺有效
申请号: | 201210394408.2 | 申请日: | 2012-10-17 |
公开(公告)号: | CN102945810A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 黄丽凤 | 申请(专利权)人: | 如皋市大昌电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京一格知识产权代理事务所(普通合伙) 11316 | 代理人: | 滑春生 |
地址: | 226500 江苏省南通市如*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种高压二极管芯片合金工艺,将镀镍芯片与高温焊片逐片间隔堆叠通过高频合金炉进行一次合金,一次合金时,在镀镍扩散片的最外层覆盖低温焊片,使焊片有效保护最外层镀镍片,防止高温氧化;二次合金时,用低温焊片置于一次合金半成品硅叠最外层,使低温焊片之间进行有效融合,确保焊接质量,避免镀镍芯片再镀金过程中引入剧毒物品氰化金钾,提高产品制造过程的安全性,同时极大降低产品成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 高压 二极管 芯片 合金 工艺 | ||
【主权项】:
一种高压二极管芯片合金工艺,其特征在于:包括以下步骤:(1)将镀镍芯片与高温焊片逐片间隔堆叠,最外层镀镍芯片的另一面各放置一片低温焊片;(2)将上述堆叠的材料置于高频合金炉内进行一次合金加热,使高温焊片与镀镍芯片形成良好的合金,将低温焊片完全熔化,完全覆盖于最外层镀镍芯片,以防止最外层镀镍芯片氧化;(3)在上述一次合金半产品两面各放置一片低温焊片,置于高频合金炉中进行二次合金加热,使低温焊片与一次合金半产品形成良好合金。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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