[发明专利]基于光学相干断层扫描技术的光纤环质量检测方法及装置

摘要

本发明涉及基于光学相干断层扫描技术的光纤环质量检测方法及装置，属于光学测量、光纤传感及检测技术领域。该方法包括：将被测光纤环固定在一个旋转机构上；将光学相干断层扫描系统探头垂直固定于被测光纤环上方；以光纤环圆心为旋转轴旋转该光纤环，同时光学相干断层扫描系统的扫描探头对被测光纤环沿着被测光纤环轴向进行一维扫描，从而获得被测光纤环的OCT信息；根据OCT信息，进行三维图像重建，通过重建图像判断该被测光纤环表面及表面以下是否存在缺陷，并根据图像的不均匀位置对缺陷进行定位，以消除缺陷。该方法利用OCT检测光纤环成品的质量以及绕制过程中产生的绕制缺陷，可以有效提高各种使用光纤环的角度传感器的精度。

主权项

一种基于光学相干断层扫描技术的光纤环质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：（1）将被测光纤环固定在一个旋转机构上；（2）将光学相干断层扫描系统探头垂直固定于被测光纤环上方，使得入射光垂直对准被测光纤环；（3）以光纤环圆心为旋转轴旋转该光纤环，同时光学相干断层扫描系统的扫描探头对被测光纤环沿着被测光纤环轴向进行一维扫描，从而获得被测光纤环的OCT信息；或光纤环静止不动，扫描探头沿着光纤环轴向和垂直光纤环轴向两个方向进行二维扫描，从而获得被测光纤环局部的OCT信息；或光纤环静止不动，光学相干断层扫描系统的扫描探头相对被测光纤环沿着其外围转动，进行轴向扫描，从而获得被测光纤环的OCT信息；（4）根据获得的被测光纤环OCT信息，进行三维图像重建，通过重建图像判断该被测光纤环表面及表面以下是否存在缺陷，并根据图像的不均匀位置对缺陷进行定位，以消除缺陷。