[发明专利]包括相位差检测像素的成像装置有效
| 申请号： | 201210378093.2 | 申请日： | 2012-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN103037161B | 公开（公告）日： | 2018-06-26 |
| 发明（设计）人： | 浜田正隆 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H04N5/232 | 分类号： | H04N5/232;H04N5/369;H04N9/04 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种包括相位差检测像素的成像装置，更具体地讲，所述成像装置包括：多个像素，被二维地布置以捕获图像并检测相位差；第一光电转换像素行；以及第二光电转换像素行，其中，第一光电转换像素行和第二光电转换像素行均被布置为使得在用于相位差检测的每个像素中形成的电路相对于光电转换像素的开口彼此相对地布置。在所述成像装置中，可对整个拍摄的屏幕区域来执行相位差检测。另外，包括相位差检测像素的成像装置可不具有缺陷像素，因此，获得了改善的图像质量。可在低亮度下执行对象的拍摄和AF。 | ||
| 搜索关键词： | 光电转换像素 相位差检测 成像装置 像素 检测相位差 彼此相对 捕获图像 屏幕区域 缺陷像素 拍摄 二维 电路 开口 图像 | ||
【主权项】：
1.一种成像装置，所述成像装置包括：多个像素，被二维布置以捕获图像并检测相位差；第一光电转换像素行；以及第二光电转换像素行，其中，在第一光电转换像素行的每个光电转换像素中形成的晶体管电路位于像素开口的第一侧，在第二光电转换像素行的每个光电转换像素中形成的晶体管电路位于像素开口的与第一侧相对的第二侧。
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