[发明专利]电路板上电子元件的检测系统及其方法无效
申请号: | 201210356736.3 | 申请日: | 2012-09-21 |
公开(公告)号: | CN103674959A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 陈树青;韩愈强 | 申请(专利权)人: | 英业达科技有限公司;英业达股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 | 代理人: | 靳春鹰;刘云贵 |
地址: | 201114 上海市闵*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种电路板上电子元件的检测系统及其方法,预先建立具有校正点与标准区域的标准影像,撷取需要被检测的电路板影像,依据校正点进行电路板影像的影像校正,依据标准区域在校正后的电路板影像中找出对应的比对区域,依据电子元件类型进行标准区域与比对区域指定的影像处理与影像比对,当标准区域与比对区域的影像处理结果比对不符时,对应记录标准区域与电路板的生产序号以生成提示信息,由此可以达成电路板上电子元件检测效率提升的技术效果。 | ||
搜索关键词: | 电路板 电子元件 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种电路板上电子元件的检测系统,其特征在于,所述检测系统是用于生产线中的检测,其包含:标准图像模块,用以预先撷取标准电路板的标准影像,并在所述标准影像中建立两个校正点、建立至少一个标准区域以及与所述标准区域对应的电子元件类型;影像撷取模块,当具有生产序号的电路板通过生产线进入所述检测系统并定位时,所述影像撷取模块用以撷取电路板影像;影像校正模块,用以在所述电路板影像找出与所述标准影像中的所述校正点对应的特征点,并依据所述校正点与所述特征点以计算出平移矩阵与旋转矩阵,以对所述电路板影像进行校正;影像处理模块,依据所述标准区域在校正后的所述电路板影像中找出对应的比对区域,并依据所述电子元件类型进行所述标准区域与所述比对区域指定的影像处理;影像比对模块,将所述标准区域与所述比对区域进行指定的影像处理结果,依据所述电子元件类型选取比对条件对影像处理结果进行比对;记录模块,当所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果比对不符时,用以对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号;及提示模块,当记录模块对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号,所述提示模块用以生成提示信息。
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