[发明专利]电路板上电子元件的检测系统及其方法

权利要求书

1.一种电路板上电子元件的检测系统，其特征在于，所述检测系统是用于生产线中的检测，其包含：

标准图像模块，用以预先撷取标准电路板的标准影像，并在所述标准影像中建立两个校正点、建立至少一个标准区域以及与所述标准区域对应的电子元件类型；

影像撷取模块，当具有生产序号的电路板通过生产线进入所述检测系统并定位时，所述影像撷取模块用以撷取电路板影像；

影像校正模块，用以在所述电路板影像找出与所述标准影像中的所述校正点对应的特征点，并依据所述校正点与所述特征点以计算出平移矩阵与旋转矩阵，以对所述电路板影像进行校正；

影像处理模块，依据所述标准区域在校正后的所述电路板影像中找出对应的比对区域，并依据所述电子元件类型进行所述标准区域与所述比对区域指定的影像处理；

影像比对模块，将所述标准区域与所述比对区域进行指定的影像处理结果，依据所述电子元件类型选取比对条件对影像处理结果进行比对；

记录模块，当所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果比对不符时，用以对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号；及

提示模块，当记录模块对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号，所述提示模块用以生成提示信息。

2.如权利要求1所述的电路板上电子元件的检测系统，其特征在于，所述影像处理包含灰阶处理、空间滤波、频率滤波、图像复原、图像色彩分析、小波处理、形态处理、图像分割以及图像定量分析。

3.如权利要求1所述的电路板上电子元件的检测系统，其特征在于，所述影像比对模块依据所述电子元件类型选取比对条件对影像处理结果进行比对中比对条件包含轮廓、几何条件以及颜色配置。

4.如权利要求1所述的电路板上电子元件的检测系统，其特征在于，所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果比对不符是当所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果超出误差值则比对不符。

5.如权利要求1所述的电路板上电子元件的检测系统，其特征在于，该提示模块所生成的所述提示信息是包含所述标准区域与所述电路板的所述生产序号。

6.一种电路板上电子元件的检测方法，其特征在于，所述检测方法是用于生产线中的检测，其包含下列步骤：

预先撷取标准电路板的标准影像，并在所述标准影像中建立两个校正点、建立至少一个标准区域以及与所述标准区域对应的电子元件类型；

当具有生产序号的电路板通过生产线定位以进行检测时，撷取电路板影像；

在所述电路板影像找出与所述标准影像中的所述校正点对应的特征点，并依据所述校正点与所述特征点以计算出平移矩阵与旋转矩阵，以对所述电路板影像进行校正；

依据所述标准区域在校正后的所述电路板影像中找出对应的比对区域，并依据所述电子元件类型进行所述标准区域与所述比对区域指定的影像处理；

将所述标准区域与所述比对区域进行指定的影像处理结果，依据所述电子元件类型选取比对条件对影像处理结果进行比对；

当所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果比对不符时，用以对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号；及

当对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号，生成提示信息。

7.如权利要求6所述的电路板上电子元件的检测方法，其特征在于，依据所述标准区域在校正后的所述电路板影像中找出对应的比对区域，并依据所述电子元件类型进行所述标准区域与所述比对区域指定的影像处理的步骤中所述影像处理包含灰阶处理、空间滤波、频率滤波、图像复原、图像色彩分析、小波处理、形态处理、图像分割以及图像定量分析。

8.如权利要求6所述的电路板上电子元件的检测方法，其特征在于，将所述标准区域与所述比对区域进行指定的影像处理结果，依据所述电子元件类型选取比对条件对影像处理结果进行比对的步骤中比对条件包含轮廓、几何条件以及颜色配置。

9.如权利要求6所述的电路板上电子元件的检测方法，其特征在于，当所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果比对不符时，用以对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号的步骤是当所述标准区域与所述比对区域的影像处理结果超出误差值则比对不符。

10.如权利要求6所述的电路板上电子元件的检测方法，其特征在于，当对应记录所述标准区域与所述电路板的所述生产序号，生成所述提示信息的步骤中所述提示信息包含所述标准区域与所述电路板的所述生产序号。