[发明专利]芯片测试方法有效
| 申请号： | 201210325620.3 | 申请日： | 2012-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN102788952A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 李强;许晓红;朱巍;菅陆田;谢军;李峰;宁永波 | 申请（专利权）人： | 无锡江南计算技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 龚燮英 |
| 地址： | 214083 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试方法。建立用于模拟待测芯片的芯片功能的参考模型。将随机测试激励在参考模型中运行，并且将随机测试激励的运行轨迹利用MD5算法进行压缩，以便得到一个标准参考值。将与随机测试激励一致的随机测试程序和MD5算法程序加载到芯片中，并且，所述MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法相对应。使芯片运行随机测试程序。使芯片运行MD5算法程序，从而把随机测试激励的运行轨迹压缩成实际运行值。将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来。将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较，从而验证芯片的功能正确性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片测试方法，其特征在于包括：第一步骤：建立用于模拟待测芯片的芯片功能的参考模型；第二步骤：将随机测试激励在参考模型中运行，并且将随机测试激励的运行轨迹利用MD5算法进行压缩，以便得到一个标准参考值；第三步骤：将与随机测试激励一致的随机测试程序和MD5算法程序加载到芯片中，并且，所述MD5算法程序与所述第二步骤中的MD5算法相对应；第四步骤：使芯片运行随机测试程序；第五步骤：使芯片运行MD5算法程序，从而把随机测试激励的运行轨迹压缩成实际运行值；第六步骤：将芯片的实际运行值从芯片中扫描出来；以及第七步骤：将从芯片中扫描出来的实际运行值与参考模型的标准参考值进行比较，从而验证芯片的功能正确性。
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