[发明专利]密闭地密封的辐射检测器和制作方法有效

专利信息
申请号: 201210317543.7 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN103091697A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: J.J.肖;C.P.加里甘 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/202
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 叶晓勇;李浩
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明的名称是“密闭地密封的辐射检测器和制作方法”。本文公开包含X线面板(102)和放置于X线面板(102)的第一表面上的闪烁体层(104)的平板X线检测器(100)。平板X线检测器(100)还包含覆盖闪烁体层(104)的密闭盖(108)。密闭盖(104)包含顶面(108-1)和从顶面(108-1)伸出的至少一个侧壁(108-2)。平板X线检测器(100)还包含放置于密闭盖(108)与X线面板(102)之间的焊料密封物(110)。侧壁(108-2)的边缘大体上嵌入到焊料密封物(110)中,以致边缘不直接接触X线面板(102)。还公开了用于制作平板X线检测器(100)的方法。
搜索关键词: 密闭 密封 辐射 检测器 制作方法
【主权项】:
一种检测器,包含:X线面板(102);闪烁体层(104),放置于所述X线面板(102)的第一表面;密闭盖(108),覆盖所述闪烁体层(104),其中所述密闭盖(108)包含顶面(108‑1)和从所述顶面(108‑1)伸出的至少一个侧壁(108‑2);以及焊料密封物(110),放置于所述密闭盖(108)和所述X线面板(102)之间,其中所述侧壁(108‑2)的边缘大体上嵌入到所述焊料密封物(110)中,由此所述边缘不直接接触所述X线面板(102)。
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