[发明专利]密闭地密封的辐射检测器和制作方法有效

专利信息
申请号: 201210317543.7 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN103091697A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: J.J.肖;C.P.加里甘 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/202
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 叶晓勇;李浩
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 密闭 密封 辐射 检测器 制作方法
【权利要求书】:

1. 一种检测器,包含:

X线面板(102);

闪烁体层(104),放置于所述X线面板(102)的第一表面;

密闭盖(108),覆盖所述闪烁体层(104),其中所述密闭盖(108)包含顶面(108-1)和从所述顶面(108-1)伸出的至少一个侧壁(108-2);以及

焊料密封物(110),放置于所述密闭盖(108)和所述X线面板(102)之间,其中所述侧壁(108-2)的边缘大体上嵌入到所述焊料密封物(110)中,由此所述边缘不直接接触所述X线面板(102)。

2. 如权利要求1所述的检测器,其中所述密闭盖(108)包含铝、不锈钢、铜、镍以及聚醚酰亚胺中的至少一个。

3. 如权利要求1所述的检测器,其中所述边缘包含凸缘部分,其中所述凸缘部分大体上完全嵌入到所述焊料材料中。

4. 如权利要求1所述的检测器,其中所述闪烁体层(104)包含碘化铯(CsI)、用铊掺杂的碘化铯晶体(CsI:TI)、铊掺杂的碘化钠(NaI:TI)、用钠掺杂的碘化铯晶体(CsI:Na)、溴化镧(LaBR3)以及碘化铈(CeI)中的至少一个。

5. 一种方法,包含:

在X线面板(102)上形成检测器元件阵列;以及

使用超声波焊接将密闭盖(108)接合到所述X线面板(102),其中所述密闭盖(108)包含顶面(108-1)和从所述顶面(108-1)伸出的至少一个侧壁(108-2),并且其中所述侧壁(108-2)的边缘大体上嵌入到焊料密封物(110)中,由此所述边缘不直接接触所述X线面板(102)。

6. 如权利要求5所述的方法,还包括在所述X线面板(102)上放置所述焊料密封物(110)的预制带。

7. 如权利要求5所述的方法,还包含使用超声能量施加所述焊料密封物(110)到所述密闭盖(108)的所述侧壁(108-2)的所述边缘。

8. 如权利要求5所述的方法,还包含使用超声能量搅动所述焊料密封物(110)。

9. 一种器件,包含:

平板基板;

辐射感测结构,位于所述平板基板的第一表面上;

密闭盖(108),覆盖所述辐射感测结构,其中所述密闭盖(108)包含顶面(108-1)和从所述顶面(108-1)垂直地伸出的侧壁(108-2),并且其中所述密闭盖(108)对辐射大体上透明;以及

焊料密封物(110),放置于所述密闭盖(108)和所述平板基板之间,其中所述侧壁(108-2)的边缘大体上嵌入到所述焊料密封物(110)中,由此所述边缘不直接接触所述平板基板。

10. 如权利要求9所述的器件,其中所述焊料密封物(110)包含铟-锡合金、纯铟以及铅-铋合金中的至少一个。

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