[发明专利]一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置有效

专利信息
申请号: 201210305222.5 申请日: 2012-08-24
公开(公告)号: CN102830090A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 倪磊;杨月英;廖胜;任栖峰 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01N21/41 分类号: G01N21/41
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;李新华
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置,该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管。当样品仓中温度降低时,样品的折射率会随着改变,偏向角δ也会有微小的变化Δδ,偏向角变化量可由平行光管测量出,从而得到低温下材料的折射率改变。本发明基于最常用的垂直入射法的,原理简单,操作方便,所测得样品棱镜可以是红外材料也可以是可见光波段的材料,应用范围广,用平行光管代替了一般测量用的编码器,平行光管测角度的微小变化准确度高,能很好的应用于测量低温下材料射率变化引起的偏向角的微小变化,降低了装置成本,提高了偏向角测量精度。
搜索关键词: 一种 测量 低温 材料 折射率 温度 系数 装置
【主权项】:
一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置,其特征在于,该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管;其中,所述的分光镜表面经镀膜处理,使测量时所用波段的光束50%透射,50%反射,所述分光镜置于准直光源系统和低温真空仓之间的光路上,用于反射经低温真空仓后出射的平行光,使该平行光顺利进入瞄准系统;所述瞄准系统包括离轴聚焦抛物面反射镜和阵列探测器,所述离轴聚焦抛物面反射镜用于瞄准焦点位置,所述阵列探测器用来探测聚焦光斑;所述的低温真空仓包括与该低温真空仓相连所述的电控旋转台,所述电控旋转台用于调整双面旋转反射镜的角度变化;所述样品仓位于低温真空仓内部,其还包括与该样品仓相连的绝热支撑,用于隔绝该样品仓与所述低温真空仓的热传导,实现样品仓的制冷;所述样品仓用于放置样品棱镜;所述双面旋转反射镜正面抛光并镀反射膜,背面同时抛光并镀反射膜;所述旋转双面旋转反射镜由连接到所述的低温真空仓上的电控旋转台驱动进行微小角度的转动;所述旋转双面旋转反射镜一方面用于垂直反射由样品仓出射的光束,使光束按原路反射回去;另一方面用于平行光管的瞄准和选择该双面旋转反射镜的角度改变的测量;所述平行光管在所述的低温真空仓的一个光路出口处,通过读出该平行光管的玻罗板上的焦点的移动来间接测量双面旋转反射镜旋转角度的微小转动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210305222.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top