[发明专利]一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置

权利要求书

1.一种测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，其特征在于，该装置包括准直光源系统、分光镜、瞄准系统、低温真空仓、样品仓、双面旋转反射镜、电控旋转台和平行光管；其中，

所述的分光镜表面经镀膜处理，使测量时所用波段的光束50%透射，50%反射，所述分光镜置于准直光源系统和低温真空仓之间的光路上，用于反射经低温真空仓后出射的平行光，使该平行光顺利进入瞄准系统；

所述瞄准系统包括离轴聚焦抛物面反射镜和阵列探测器，所述离轴聚焦抛物面反射镜用于瞄准焦点位置，所述阵列探测器用来探测聚焦光斑；

所述的低温真空仓包括与该低温真空仓相连所述的电控旋转台，所述电控旋转台用于调整双面旋转反射镜的角度变化；

所述样品仓位于低温真空仓内部，其还包括与该样品仓相连的绝热支撑，用于隔绝该样品仓与所述低温真空仓的热传导，实现样品仓的制冷；所述样品仓用于放置样品棱镜；

所述双面旋转反射镜正面抛光并镀反射膜，背面同时抛光并镀反射膜；所述旋转双面旋转反射镜由连接到所述的低温真空仓上的电控旋转台驱动进行微小角度的转动；所述旋转双面旋转反射镜一方面用于垂直反射由样品仓出射的光束，使光束按原路反射回去；另一方面用于平行光管的瞄准和选择该双面旋转反射镜的角度改变的测量；

所述平行光管在所述的低温真空仓的一个光路出口处，通过读出该平行光管的玻罗板上的焦点的移动来间接测量双面旋转反射镜旋转角度的微小转动。

2.根据权利要求1所述的测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，其特征在于，所述准直光源系统为单色仪，其出射准单色的可见光或红外光。

3.根据权利要求1所述的测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，其特征在于，根据不同的测量波段，所述阵列探测器分为可见光CCD和红外阵列探测器FPA。

4.根据权利要求1所述的测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，其特征在于，所述的低温真空仓是低温真空测量环境下的绝热装置，抽真空采用所述的机械真空泵和所述低温真空泵配合使用，可以达到10^-3MPa以下的真空度。

5.根据权利要求1所述的测量低温下材料折射率和折射率温度系数的装置，其特征在于，所述绝热支撑由G10材料加工而成。