[发明专利]制造镶嵌式自对准铁电随机存取存储器设备结构的方法有效
申请号: | 201210287692.3 | 申请日: | 2012-08-13 |
公开(公告)号: | CN102956566A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 孙山;托马斯·E.·达文波特;约翰·克罗宁 | 申请(专利权)人: | 瑞创国际公司 |
主分类号: | H01L21/8247 | 分类号: | H01L21/8247;H01L27/115 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 美国科*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种制造镶嵌式自对准铁电随机存取存储器设备结构的方法。该方法采用减少的工艺步骤制造镶嵌式自对准铁电随机存取存储器(F-RAM)设备结构。 | ||
搜索关键词: | 制造 镶嵌 对准 随机存取存储器 设备 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种在基片上形成集成电路的方法,包括:在所述基片上形成第一绝缘层,移除所述第一绝缘层的一部分以在其中形成至所述基片的暴露表面的开口;在所述开口的侧壁上形成多个第一隔离层;在所述基片的所述暴露表面上形成第一导电层,该第一导电层与所述开口的所述侧壁上的所述第一隔离层被它们之间的间隔分开;在所述第一导电层上方和所述第一导电层的侧向的所述间隔中形成铁电电容器的下电极;与所述开口中的所述隔离层相邻地形成第二绝缘层;在所述开口中的所述第二绝缘层上形成多个第二隔离层;在所述第二隔离层之间的所述下电极上形成铁电介电层;在所述铁电电介质上形成上电极;穿过部分所述第二绝缘层形成至所述下电极的下电极接触开口,并且形成所述上电极的第一电触点,并通过所述下电极接触开口形成所述下电极的第二电触点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞创国际公司,未经瑞创国际公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210287692.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:孔洞在先的硬掩模限定
- 下一篇:用于在CMP加工中实时差错检测的装置和方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造