[发明专利]接近式曝光装置及接近式曝光方法有效
申请号: | 201210285246.9 | 申请日: | 2012-08-10 |
公开(公告)号: | CN102955373A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
发明(设计)人: | 汤口悟;佐藤雅之 | 申请(专利权)人: | 恩斯克科技有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F1/64 |
代理公司: | 北京泛诚知识产权代理有限公司 11298 | 代理人: | 陈波;朱弋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种接近式曝光装置及曝光方法,其能以简单结构对掩模挠曲进行修正并保持掩模,以高精度进行曝光复制。该掩模载置台(1)具有:将掩模(M)真空吸附并保持于其下表面的掩模保持架(26);保持于掩模保持架(26)上表面侧的玻璃盖片(32);对由掩模保持架(26)、掩模(M)及玻璃盖片(32)界定的空间(33)内的空气进行抽吸,使空间(33)内部减压的抽吸机构(40);和从外部向减压空间(33)内供给空气的至少一条空气导入槽(35)。在将掩模(M)真空吸附并保持于掩模保持架(26)的下表面,并由抽吸机构(40)抽吸空间(33)内压力的状态下,经空气导入槽(35)向空间(33)供给外部空气,将空间(33)内压力调节为规定压力。 | ||
搜索关键词: | 接近 曝光 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种接近式曝光装置,其特征在于,具有:基板载置台,其保持作为被曝光件的基板;掩模载置台,其保持具有需曝光图案的掩模;以及照射单元,其借助所述掩模对所述基板照射图案曝光用光,所述接近式曝光装置在所述掩模与所述基板接近,并以规定的曝光间隙对向配置的状态下,将所述掩模的图案曝光复制在所述基板上,所述掩模载置台具有:掩模保持架,其将所述掩模真空吸附保持于其下表面;玻璃盖片,其被保持在所述掩模保持架的上表面侧;抽吸机构,其抽吸至少由所述掩模保持架、所述掩模及所述玻璃盖片所界定的空间内部的空气,使所述空间内部减压;以及空气导入通路,其从外部向被减压的空间内部供给空气,且所述空气导入通路至少有一条。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩斯克科技有限公司,未经恩斯克科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210285246.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电介质瓷组成物以及陶瓷电子零件
- 下一篇:蒸汽型喷射/溴化锂吸收复合热泵