[发明专利]光学无色差聚焦系统有效

专利信息
申请号: 201210281504.6 申请日: 2012-08-09
公开(公告)号: CN103575230A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 李国光;吴文镜;王林梓;刘健鹏;刘涛;赵江艳 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所;北京智朗芯光科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01N21/21;G02B17/06
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及光学测量领域,特别涉及一种光学无色差聚焦系统。包括:第一曲面反射元件、第二曲面反射元件及第三曲面反射元件;所述第一曲面反射元件,接收由点光源发射出的光束,并将该光束变成平行光束;第二曲面反射元件,接收由第一曲面反射元件反射的所述平行光束;所述第三曲面反射元件,接收由所述第二曲面反射元件反射的平行光束,将其变成会聚光束并垂直入射至待测样品的表面;所述第一曲面反射元件、第二曲面反射元件及第三曲面反射元件构成交叉切尔尼-特纳结构。本发明提供的光学无色差聚焦系统结构简单、价格低廉,光学测量时不会产生色差,并且可合理地改变入射光的传播方向,使其聚焦在样品表面,同时获得较为合适的工作距离。
搜索关键词: 光学 色差 聚焦 系统
【主权项】:
一种光学无色差聚焦系统,其特征在于,包括:第一曲面反射元件、第二曲面反射元件及平面反射元件;所述第一曲面反射元件,接收由点光源发射出的光束,并将该光束变成平行光束;所述平面反射元件,接收由第一曲面反射元件反射的所述平行光束;所述第二曲面反射元件,接收由所述平面反射元件反射的平行光束,将其变成会聚光束并垂直入射至待测样品的表面;所述第一曲面反射元件、平面反射元件及第二曲面反射元件构成交叉切尔尼‑特纳结构。
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