[发明专利]小工件视觉测量方法及测量系统有效
| 申请号： | 201210262125.2 | 申请日： | 2012-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102818523A | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | 燕必希;刘力双;邓文怡;祝连庆;宗敏 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人： | 贺持缓 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种小工件视觉测量方法及测量系统，其中方法包括：在被测工件的高度范围内，利用线结构光发生器生成的线结构光对被测工件所在的测量系统进行高度分层标定，得到测量系统的高度标定参数；利用测量系统中的圆形靶标在每一分层高度对测量系统进行平面二维尺寸标定，得到每一分层高度对应的平面标定参数；将平面标定参数与高度标定参数进行拟合，建立平面标定参数和高度标定参数的对应关系；利用激光三角法测量被测工件的台阶面的高度；通过被测工件的台阶面的高度、该被测工件的台阶面的高度对应的平面标定参数和对应关系获取被测工件的测量参数。本发明可以实现对被测工件的不同高度平面几何尺寸的测量，并提高被测工件测量的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 工件 视觉 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种小工件视觉测量方法，其特征在于，包括：在被测工件的高度范围内，利用线结构光发生器生成的线结构光对被测工件所在的测量系统进行高度分层标定，得到所述测量系统的高度标定参数；利用所述测量系统中的圆形靶标在每一分层高度对所述测量系统的进行平面二维尺寸标定，得到所述测量系统在每一分层高度对应的平面标定参数；将所述平面标定参数与所述高度标定参数进行拟合，建立所述平面标定参数和所述高度标定参数的对应关系；利用激光三角法测量所述被测工件的台阶面的高度；通过所述被测工件的台阶面的高度、所述被测工件的台阶面的高度对应的平面标定参数和所述对应关系获取所述被测工件的测量参数。
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