[发明专利]IGBT模块早期失效检测方法无效
| 申请号： | 201210255606.0 | 申请日： | 2012-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN102749569A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张强 | 申请（专利权）人： | 西安永电电气有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 常亮 |
| 地址： | 710016 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种IGBT模块早期失效检测方法，包括：对IGBT模块进行高温阻断检测，如果不满足第一条件，则判定为早期失效，其中，所述第一条件是指：10~50分钟的检测时间内，IGBT模块的阻断漏电流小于100mA，变化率小于100%。由于检测的时间只有10~50分钟，检测周期大大缩短，所以在生产过程中可以实现对所有的IGBT模块进行检测，同时，检测过的IGBT模块可以继续使用，进而大大降低了成本。 | ||
| 搜索关键词： | igbt 模块 早期 失效 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种IGBT模块早期失效检测方法，其特征在于：对IGBT模块进行高温阻断检测，如果不满足第一条件，则判定为早期失效，其中，所述第一条件是指：10~50分钟的检测时间内，IGBT模块的阻断漏电流小于100mA，变化率小于100%。
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