[发明专利]IGBT模块早期失效检测方法

权利要求书

1.一种IGBT模块早期失效检测方法，其特征在于：对IGBT模块进行高温阻断检测，如果不满足第一条件，则判定为早期失效，其中，所述第一条件是指：10~50分钟的检测时间内，IGBT模块的阻断漏电流小于100mA，变化率小于100%。

2.根据权利要求1所述的IGBT模块早期失效检测方法，其特征在于：所述检测方法还包括对满足第一条件的IGBT模块进行局部放电试验，以检验IGBT模块长时间运行绝缘特性。

3.根据权利要求2所述的IGBT模块早期失效检测方法，其特征在于：在所述局部放电试验中，如果不满足第二条件，则判定为早期失效，其中，所述第二条件是指：所述IGBT模块局部放电量小于10pC。

4.根据权利要求1所述的IGBT模块早期失效检测方法，其特征在于：所述检测方法还包括对满足第一条件的IGBT模块进行绝缘测试检验。

5.根据权利要求4所述的IGBT模块早期失效检测方法，其特征在于：所述IGBT模块包括导热底板和电极，在所述的绝缘测试检验中，通过测试IGBT模块电极和导热底板之间的绝缘，要求所述电极对导热底板承受的绝缘电压大于1分钟。