[发明专利]一种带材厚度测量装置有效
申请号: | 201210239908.9 | 申请日: | 2012-07-12 |
公开(公告)号: | CN102749049A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 孙红刚;汤昌东;胡兵;莫云龙;刘建新 | 申请(专利权)人: | 安徽精诚铜业股份有限公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人: | 蒋光恩 |
地址: | 241008 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明提供一种应用于带材生产技术领域的带材厚度测量装置,所述的带材厚度测量装置的装置本体(1)上设置延伸出装置本体(1)的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3),伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)上分别设置X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5),带材(6)设置为从伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)之间穿过的结构,X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)分别与X射线控制开关(6)连接,装置本体(1)与显示带材厚度信息的信号处理计算机(18)连接。本发明的带材厚度测量装置,可以对任意宽度的带材进行厚度测量工作,同时不会给带材表面造成划伤及亮线等缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种带材厚度测量装置,其特征在于:所述的带材厚度测量装置包括装置本体(1),装置本体(1)上设置延伸出装置本体(1)的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3),所述的伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)上分别设置X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5),带材(6)设置为从伸出杆Ⅰ(2)和伸出杆Ⅱ(3)之间穿过的结构,所述的X射线接收装置(4)和X射线发射装置(5)分别与X射线控制开关(6)连接,所述的装置本体(1)与显示带材厚度信息的信号处理计算机(18)连接。
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