[发明专利]信号相位差测量的方法无效
申请号: | 201210226187.8 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN102735937A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 龚国良;鲁华祥;边昳;金敏;陈天翔 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种信号相位差测量的方法,包括:步骤A,由1维被测信号与两个1维标准正弦参考信号组成3维的观测信号矩阵X(n),其中,被测信号包含单频正弦测试信号及噪声信号;步骤B,对观测信号矩阵X(n)运行第一次寻优迭代运算,得到3×3的分离矩阵W1及3维的源分量矩阵S(n);步骤C,判断源分量矩阵S(n)中噪声分量Ig(n)的所在行k;步骤D:当k=1时,执行步骤G;步骤G:在混合矩阵A中选择两元素α,β,与源分量矩阵中的正弦分量和余弦分量进行线性加乘,从而获得被测信号中的单频正弦测试信号,其中,混合矩阵A为分离矩阵的逆矩阵;以及步骤H,由获得的单频正弦测试信号进行相位差测量。本发明可以降低对待测信号信噪比的要求,提高其适用性。 | ||
搜索关键词: | 信号 相位差 测量 方法 | ||
【主权项】:
一种信号相位差测量的方法,包括:步骤A,由1维被测信号与两个1维标准正弦参考信号组成3维的观测信号矩阵X(n),其中,被测信号包含单频正弦测试信号及噪声信号;步骤B,对所述观测信号矩阵X(n)运行第一次寻优迭代运算,得到3×3的分离矩阵W1及3维的源分量矩阵S(n),其中,源分量矩阵S(n)的3个源分量分别是:噪声分量Ig(n)、正弦分量sin(n)及余弦分量cos(n);步骤C,判断所述源分量矩阵S(n)中噪声分量Ig(n)的所在行k;步骤D:当k=1时,执行步骤G;步骤G:在混合矩阵A中选择两元素α,β,与所述源分量矩阵中的正弦分量和余弦分量进行线性加乘,从而获得被测信号中的所述单频正弦测试信号,其中,所述混合矩阵A为所述分离矩阵的逆矩阵;以及步骤H,由获得的所述单频正弦测试信号进行相位差测量。
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