[发明专利]一种存储器放电电路有效
申请号: | 201210207782.7 | 申请日: | 2012-06-18 |
公开(公告)号: | CN103514937A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 刘铭 | 申请(专利权)人: | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C7/12 | 分类号: | G11C7/12 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 苏培华 |
地址: | 100083 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请提供了一种存储器放电电路,以解决传统的放电电路中正负电压放电速度不能控制的问题。所述电路包括:PMOS管组成的P管电流镜;NMOS管组成的N管电流镜;负电压放电支路和正电压放电支路;通过控制接入到电路中的PMOS管的数量,控制正负电压放电电流的大小,在同一时间段内,使正负电压放电电流的速度相等。在整个放电过程中控制放电电流的速度,减轻了放电速度过快对存储器寿命的影响,延缓了存储器的性能衰减;并且通过调整开关闭合或断开的状态,分时间段进行放电,提高了放电的平稳性。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储器 放电 电路 | ||
【主权项】:
一种存储器放电电路,其特征在于,包括:PMOS管组成的P管电流镜;NMOS管组成的N管电流镜;负电压放电支路和正电压放电支路;其中,P管电流镜中的第一PMOS管的栅极接内部电流源Idisc,源极接内部电压VDD,漏极接负电压放电支路,用于复制放电电流;P管电流镜中的第二PMOS管的栅极接内部电流源Idisc,源极接内部电压VDD,漏极接N管电流镜,用于复制放电电流;除所述第一PMOS管和所述第二PMOS管之外,所述P管电流镜还包括n个PMOS管,所述n个PMOS管的源极分别与n个开关连接,栅极和漏极接内部电流源Idisc,n个PMOS管之间并联,用于控制放电电流的大小,n≥1;所述n个开关分别用于控制所述n个PMOS管是否接入电路;N管电流镜中的第一NMOS管的漏极和栅极与第二NMOS管的栅极接第二PMOS管的漏极,第一NMOS管的源极接地;N管电流镜中的第二NMOS管的漏极接正电压放电支路,源极接地;当m个开关闭合时,m个PMOS管接入电路,负电压放电支路的放电电流为Idisc/m,正电压放电支路的放电电流为Idisc/m,n≥1,n≥m≥1,n和m为正整数;通过改变开关闭合或断开的状态,控制PMOS管接入电路的数量,调整放电的时间段。
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