[发明专利]太阳电池单元检查装置在审
申请号: | 201210184156.0 | 申请日: | 2012-05-29 |
公开(公告)号: | CN102983089A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 高见芳夫;桥本豊之;北原大 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明是有关于一种太阳电池单元检查装置,可在相同的位置,同时对反射影像与透射影像进行拍摄。太阳电池单元检查装置包括向半导体晶圆的第一面照射可见光的第一照射部;接收半导体晶圆所反射的可见光以取得半导体晶圆的反射影像的第一拍摄部;向与半导体晶圆的第一面相向的第二面照射红外光的第二照射部;接收透过半导体晶圆的红外光以取得半导体晶圆的透射影像的第二拍摄部;基于反射影像及透射影像,判定半导体晶圆是否存在缺陷的判定部。上述太阳电池单元检查装置的特征在于:包括配置在第一拍摄部及第二拍摄部之间的分束器。 | ||
搜索关键词: | 太阳电池 单元 检查 装置 | ||
【主权项】:
一种太阳电池单元检查装置,其特征在于包括:第一照射部,向平板形状的半导体晶圆的第一面照射可见光;第一拍摄部,接收所述半导体晶圆所反射的所述可见光,借此,取得所述半导体晶圆的反射影像;第二照射部,向与所述半导体晶圆的所述第一面相向的所述半导体晶圆的第二面照射红外光;第二拍摄部,接收透过所述半导体晶圆的所述红外光,借此,取得所述半导体晶圆的透射影像;以及判定部,基于所述反射影像及所述透射影像,判定所述半导体晶圆是否存在缺陷,上述太阳电池单元检查装置的特征在于:包括配置在所述第一拍摄部及所述第二拍摄部之间的分束器,所述分束器将不足设定波长的光引导至第一拍摄部,并且将设定波长以上的光引导至第二拍摄部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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