[发明专利]磁检测装置

摘要

一种磁检测装置（1）包括：IC器件（2）；壳体（3），其限定IC器件的收纳空间（9）；以及，树脂模制部（4），其被布置在壳体的外表面（17）的第一部分上。IC器件包括：IC封装（5），其具有内置的磁电换能器；以及引线（6）。收纳空间由壳体的内壁的第二部分限定。内壁的第二部分的预定部分被定义为与所述IC器件接触的接触区域（L0-L4）。树脂模制部被布置在外表面的第二部分的预定部分以外，外表面的第二部分的预定部分与接触区域对应。通过接触区域和树脂模制部的位置来确定磁电换能器的位置。

主权项

一种磁检测装置（1），包括：IC器件（2），其包括IC封装（5）和从所述IC封装（5）延伸出的多条引线（6A至6C），所述IC封装包括内置的磁电换能器；壳体（3），其限定所述IC器件（2）的收纳空间（9）；以及树脂模制部（4），其被布置在所述壳体（3）的外表面（17）的第一部分上，所述壳体（3）的所述外表面（17）的第一部分与所述壳体（3）的内壁的第一部分对应，其中，所述收纳空间（9）由所述壳体（3）的所述内壁的第二部分限定，所述壳体（3）的所述内壁的第二部分与所述壳体（3）的所述外表面（17）的第二部分对应，其中，所述壳体（3）的所述内壁的第二部分的预定部分被定义为接触区域（L0至L6），所述接触区域（L0至L6）与所述IC器件（2）的外表面的预定部分相接触，其中，所述树脂模制部（4）被布置在所述壳体（3）的所述外表面（17）的第二部分的预定部分以外的部分，所述壳体（3）的所述外表面（17）的第二部分的预定部分与所述接触区域（L0至L6）对应，并且其中，通过所述树脂模制部（4）的位置以及与所述IC封装（5）接触的所述接触区域（L0至L6）的位置来确定所述磁电换能器的位置。