[发明专利]磁检测装置无效
申请号: | 201210180104.6 | 申请日: | 2012-06-01 |
公开(公告)号: | CN102809385A | 公开(公告)日: | 2012-12-05 |
发明(设计)人: | 水谷彰利;河野尚明;本多仁美;泷口智之 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01D5/14 | 分类号: | G01D5/14;G01K7/22 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 张伟;王英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 | ||
1.一种磁检测装置(1),包括:
IC器件(2),其包括IC封装(5)和从所述IC封装(5)延伸出的多条引线(6A至6C),所述IC封装包括内置的磁电换能器;
壳体(3),其限定所述IC器件(2)的收纳空间(9);以及
树脂模制部(4),其被布置在所述壳体(3)的外表面(17)的第一部分上,所述壳体(3)的所述外表面(17)的第一部分与所述壳体(3)的内壁的第一部分对应,
其中,所述收纳空间(9)由所述壳体(3)的所述内壁的第二部分限定,所述壳体(3)的所述内壁的第二部分与所述壳体(3)的所述外表面(17)的第二部分对应,
其中,所述壳体(3)的所述内壁的第二部分的预定部分被定义为接触区域(L0至L6),所述接触区域(L0至L6)与所述IC器件(2)的外表面的预定部分相接触,
其中,所述树脂模制部(4)被布置在所述壳体(3)的所述外表面(17)的第二部分的预定部分以外的部分,所述壳体(3)的所述外表面(17)的第二部分的预定部分与所述接触区域(L0至L6)对应,并且
其中,通过所述树脂模制部(4)的位置以及与所述IC封装(5)接触的所述接触区域(L0至L6)的位置来确定所述磁电换能器的位置。
2.根据权利要求1所述的磁检测装置(1),还包括:
法兰形状的突出部(16),其从所述壳体(3)的所述外表面(17)的第一部分的预定部分沿径向向外的方向延伸,所述法兰形状的突出部(16)具有环状并且围绕所述收纳空间(9),
其中,所述法兰形状的突出部(16)与所述树脂模制部(4)成一整体。
3.根据权利要求1所述的磁检测装置(1),其中
所述IC封装(5)被所述接触区域(L0至L6)夹着和支撑。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的磁检测装置(1),还包括:
多个延伸端子(13A至13C),其在所述收纳空间(9)中分别与所述多条引线(6A至6C)电气耦合,
其中,所述收纳空间(9)被填充有灌封材料。
5.根据权利要求4所述的磁检测装置(1),还包括:
电容器(14),其被耦合在两个相邻的延伸端子(13A至13C)之间,
其中,所述电容器(14)被所述收纳空间(9)中的所述灌封材料密封。
6.根据权利要求5所述的磁检测装置(1),还包括:
多个延伸端子(13A至13C),其在所述收纳空间(9)中分别与所述多条引线(6A至6C)电气耦合,
其中,所述壳体(3)限定开口部(10),以便在所述收纳空间(9)中容纳所述IC器件(2),
其中,所述开口部(10)被盖子(22)覆盖,所述盖子(22)包括多个通孔(23),
其中,每一个延伸端子(13A至13C)经由对应的所述通孔(23)穿透所述盖子(22),
其中,所述多个延伸端子(13A至13C)中的一个包括限位器(24),以将所述多个延伸端子(13A至13C)与所述盖子(22)接合,并且
其中,所述盖子(22)通过热堵缝与所述壳体(3)成一整体,以便密封所述开口部(10)。
7.根据权利要求1至3中的任一项所述的磁检测装置(1),还包括:
多个延伸端子(13A至13C),其在所述收纳空间(9)中分别与所述多条引线(6A至6C)电气耦合;以及
一个或多个电容器(14),其被耦合在两个相邻的延伸端子(13A至13C)之间,
其中,所述IC器件(2)中的除了所述IC封装(5)之外的部分、所述多个延伸端子(13A至13C)以及所述一个或多个电容器(14)提供了子总成(27)的插入部件(26),所述子总成(27)被注射成型,并且
其中,在所述子总成(27)被收纳在所述收纳空间(9)中的条件下布置所述树脂模制部(4)。
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