[发明专利]磁检测装置

说明书

技术领域

本公开涉及一种具有诸如霍尔元件之类的磁电换能器的磁检测装置。

背景技术

传统上，使用具有诸如霍尔元件之类的磁电换能器的磁检测装置来检测旋转角或线性位移。如在JP-A-2004-004114（其对应于USP 6,407,503）中公开的那样，磁检测装置包括通过注射成型（injection molding）利用树脂材料模制（mold）的集成电路（IC）器件。该IC器件包括被布置在IC器件内部的IC封装。在该IC封装中，内置了磁电换能器和诸如放大电路之类的处理电路。通过模制IC器件来限定和稳固磁电换能器的位置。当模制IC器件时，通过树脂注射而引起的注射压力被施加到在IC器件内布置的IC封装。因此，IC器件的输出电压的特性可能具有电压波动。

此外，JP-A-2004-198240（其对应于US 2004/0118227）公开了一种检测器。该检测器是通过下述方式形成的：在壳体中模制检测元件，然后在外壳中模制该壳体。在该专利文献中，感测部分作为检测元件起作用，树脂模制的传感器壳体作为壳体起作用，并且树脂模制的连接器壳体作为外壳起作用。壳体和外壳由热塑性树脂构成，并且通过注射成型形成。具体地，通过第一模制来形成壳体。然后，通过第二模制形成覆盖该壳体的外壳。因此，通过在第二模制中产生的热来使壳体和外壳彼此成一整体。因此，在壳体和外壳之间未形成空隙。这一配置可以抑制潮气向检测器的渗透。

然而，当通过第一模制形成壳体时，由注射成型引起的注射压力可能被过度地施加到检测元件。类似地，当通过第二模制来形成外壳时，由注射成型引起的注射压力可能经由壳体被过度地施加到检测元件。因此，检测器的输出电压的可靠性可能变差。

发明内容

鉴于上述困难，本公开的一个目的是提供一种磁检测装置，在该磁检测装置中，当通过以注射成型方式形成树脂模制部来限定磁电换能器的位置时，输出电压的特性较不可能波动。本公开的另一个目的是提供一种检测装置和一种该检测装置的制造方法，在该检测装置中，提高了检测元件的输出可靠性。

根据本公开的第一方面，一种磁检测装置包括IC器件、壳体和树脂模制部。所述IC器件包括：IC封装（IC package），其具有内置的磁电换能器；以及，从所述IC封装延伸出的多条引线。所述壳体限定所述IC器件的收纳空间。所述树脂模制部被布置在所述壳体的外表面的第一部分上。所述壳体的所述外表面的第一部分与所述壳体的内壁的第一部分对应。所述收纳空间由所述壳体的所述内壁的第二部分限定。所述壳体的所述内壁的第二部分对应于所述壳体的所述外表面的第二部分。所述壳体的所述内壁的第二部分的预定部分被定义为接触区域，所述接触区域与所述IC器件的外表面的预定部分相接触。所述树脂模制部被布置在所述壳体的所述外表面的所述第二部分的预定部分以外的部分，所述壳体的所述外表面的第二部分的预定部分与所述接触区域对应。通过与所述IC封装接触的所述接触区域的位置和所述树脂模制部的位置来确定所述磁电换能器的位置。

在上述装置中，当通过注射成型形成所述树脂模制部时，由树脂注射引起的注射压力不被施加到所述IC器件的所述IC封装。因此，当通过以注射成型方式形成所述树脂模制部来限定所述磁电换能器的位置时，所述IC器件的输出电压的特性较不可能波动。

根据本公开的第二方面，一种检测装置包括检测元件、壳体、多个端子、盖子和外壳。所述检测元件检测物理量。所述壳体包括底部和沿一个方向从所述底部的外沿延伸出的圆柱部。所述壳体在底部侧上的所述圆柱部内收纳所述检测元件。每一个端子的第一端与所述检测元件耦合，并且每一个端子的第二端延伸到所述壳体的外部。所述盖子覆盖所述圆柱部的开口部，并且模制所述多个端子。所述圆柱部的开口部与所述壳体的底部相对。所述外壳模制所述圆柱部、所述盖子和所述多个端子。

在上述装置中，当通过注射成型形成所述外壳时，由所述盖子来抑制所述外壳的树脂材料向所述圆柱部的渗透。因此，抑制了由所述外壳的所述树脂材料产生的注射压力的施加。因此，提高了所述检测元件的输出可靠性。