[发明专利]横向高压器件及其制造方法有效
| 申请号： | 201210169406.3 | 申请日： | 2012-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN102751330A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 唐纳徳·迪斯尼;欧力杰·米力克 | 申请（专利权）人： | 成都芯源系统有限公司 |
| 主分类号： | H01L29/78 | 分类号： | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高新西区*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 提出了一种横向高压晶体管及其制造方法。根据本发明实施例的横向高压晶体管包括利用其栅区和第一掩埋层分别作为“顶栅”和“底栅”的JFET，当施加于漏区上的电压超过了JFET的夹断电压时，所述JFET夹断以保护横向高压晶体管不被击穿。从而使横向高压晶体管可以在不必牺牲其击穿电压的情况下仍可能获得较低的导通电阻。另外横向高压晶体管还可以包括第二掩埋层，用于将源区与衬底隔离，从而允许源区承担比衬底电压更高的电压，以满足一些应用场合的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 横向 高压 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种横向高压晶体管，包括：半导体层，具有第一导电类型；源区，具有与所述第一导电类型相反的第二导电类型，该源区形成于所述半导体层中；漏区，具有所述第二导电类型，该漏区形成于所述半导体层中并与所述源区相分离；第一隔离层，形成在位于所述源区和漏区之间的所述半导体层上；第一阱区，具有所述的第二导电类型，该第一阱区形成于所述漏区的外围，向所述源区延伸，但与所述源区相分离；第二阱区，形成于所述源区外围，并具有所述的第一导电类型；栅区，形成在位于所述第二阱区和与该第二阱区邻近的部分第一阱区之上的所述第一隔离层上；以及第一掩埋层，形成于邻近所述源区一侧的所述第一阱区下方，具有所述的第一导电类型。
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